Theoretische Einführung in die Grundlagen der Rastersondentechniken mit Fokus auf die Auflösungsgrenzen verschiedener Mikroskopie-Methoden. Der Text behandelt das Abbe-Kriterium, die Wellenlängenabhängigkeit der optischen Auflösung und die De-Broglie-Wellenlänge bei der Elektronenmikroskopie.
